An Improved Technique for Examining Pollen Under the Scanning Electron Microscope

Authors

R J. Adams, University of Waterloo
J. K. Morton, University of Waterloo

Document Type

Article

Journal/Book Title/Conference

Pollen at Spores

Volume

14

Publication Date

1-1-1972

First Page

203

Last Page

212

Abstract

Les auteurs un appareil el une methode de travail qui donnet de bons resultats pour l’examen au microscope electronique a balayage de differentes sortes de pollens; cette methode resound les problemes de degonflement, de compression, d’eclatement, de charge electrostatique et de haut contraste. La methode comprend 3 operations principals: acelolyse des pollens, desiccation au point eritique avee CO2 et revetement a l’aluminium. Cette technique et les problemes lies a la preparation des pollens pour l’observation au microscope electronique a balayage sont diseutes en detail.

Recommended Citation

Adams, R J. and Morton, J. K., "An Improved Technique for Examining Pollen Under the Scanning Electron Microscope" (1972). A. Paper 29.
https://digitalcommons.usu.edu/bee_lab_a/29